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TANTALUM(V) ETHOXIDE

Ref. 3H-AKT810

3kg
Arrêté

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TANTALUM(V) ETHOXIDE
Gelest

    Informations sur le produit

    Nom:TANTALUM(V) ETHOXIDE
    Marque:Gelest
    Description :ALD Material
    Atomic layer deposition (ALD) is a chemically self-limiting deposition technique that is based on the sequential use of a gaseous chemical process. A thin film (as fine as -0.1 Å per cycle) results from repeating the deposition sequence as many times as needed to reach a certain thickness. The major characteristic of the films is the resulting conformality and the controlled deposition manner. Precursor selection is key in ALD processes, namely finding molecules which will have enough reactivity to produce the desired films yet are stable enough to be handled and safely delivered to the reaction chamber.
    Tantalum(V) ethoxide; Pentaethoxytantalum; Tantalum(5+) ethanolate
    Soluble: toluene, ethanolVapor pressure, 20 °C: 8 mmVapor pressure, 50 °C: 26 mmMolecular complexity: 1.98Employed in sol-gel synthesis of bulk and thin film Ta2O5 as a capacitor dielectricEmployed in sol-gel synthesis of lithium tantalate ferroelectricsForms chiral complexes with substituted trialkanolamines useful in asymmetric catalysisEmployed in low-pressure CVD of optical interference filtersTavalite® jewelry in which alternating TaO5-SiO2 are deposited onto cubic zirconia
    Avis:Nos produits sont destinés uniquement à un usage en laboratoire. Pour tout autre usage, veuillez nous contacter.

    Propriétés chimiques

    Masse moléculaire :406.26
    Formule :C10H25O5Ta
    Couleur/Forme :Liquid

    Question sur le produit arrêté: TANTALUM(V) ETHOXIDE

    ◻️
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